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 Silicon Dioxide Layer Thickness-dependent Aunanocube@mSiO2@Ag with surface enhanced Raman scattering for Trace Detection of Harmful Substances 基于表面增强拉曼散射的二氧化硅层厚度相关Aunanocube@mSiO2@Ag用于有害物质痕量检测
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期刊：Journal of Materials Chemistry B 作者：Hui Lei; Baijiang An; Yanyu Tian; D. Zhong; Hang Ping; et al 出版日期：2025-01-01 |
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