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![]() SF6/O2等离子体深低温Si刻蚀中侧壁缺陷的数值模拟
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期刊: 作者:M. Rudenko; Andrey V. Miakonkikh; Denis Y. Kurbat; В. Ф. Лукичев 出版日期:2019-03-15 |
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