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Defect Characterization, Imaging, and Control in Wide-Bandgap Semiconductors and Devices |
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期刊:Journal of Electronic Materials 作者:L. J. Brillson; G. M. Foster; J. Cox; W. T. Ruane; A. B. Jarjour; et al 出版日期:2018-03-19 |
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(2025-6-4)