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Study on the Point‐Contact Gate AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistor with 0.1 μm Gate Length 0.1 μ m栅长点接触栅AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管的研究
相关领域
跨导
高电子迁移率晶体管
光电子学
材料科学
晶体管
饱和电流
击穿电压
电气工程
电压
工程类
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期刊:physica status solidi (a) 作者:Shengting Luo; Xianyun Liu; Xingfang Jiang 出版日期:2023-05-05 |
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