An Accelerated Dynamic Gate Switching Stress Test Concept for SiC MOSFETs at High Drain Drain-Source Voltage (HV HV-GSS)

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标题	An Accelerated Dynamic Gate Switching Stress Test Concept for SiC MOSFETs at High Drain Drain-Source Voltage (HV HV-GSS)
网址	https://ieeexplore.ieee.org/document/10653908
DOI	10.30420/566262089 doi
求助人	Rex 在 2025-11-21 13:43:21 发布自中国台湾，悬赏 10 积分
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