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 Self-Heating in iN8–iN2 CMOS Logic Cells: Thermal Impact of Architecture (FinFET, Nanosheet, Forksheet and CFET) and Scaling Boosters 相关领域
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期刊：2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) 作者：B. Vermeersch; E. Bury; Y. Xiang; P. Schuddinck; K. K. Bhuwalka; et al 出版日期：2022-07-22 |
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