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JTE concept evaluation and failure analysis: OBIC measurements on 4H SiC p/sup +/-n diodes |
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期刊:Proceedings of the 10th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs. ISPSD'98 (IEEE Cat. No.98CH36212) 作者:M. Frischholz; J. Seidel; A. Schoner; U. Gustafsson; M. Bakowski; et al 出版日期:1998 |
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(2025-6-4)