An Effective Method to Compensate Total Ionizing Dose-Induced Degradation on Double-SOI Structure

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标题	An Effective Method to Compensate Total Ionizing Dose-Induced Degradation on Double-SOI Structure 一种补偿双SOI结构总电离剂量诱导退化的有效方法相关领域绝缘体上的硅跨导材料科学光电子学降级（电信）晶体管电离辐射吸收剂量辐射电子工程辐照硅电气工程工程类电压光学物理核物理学
网址	https://ieeexplore.ieee.org/document/8334330
DOI	10.1109/TNS.2018.2824402 doi
求助人	跳跃的访琴在 2026-01-02 17:55:09 发布自江苏，悬赏 10 积分
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