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 In-situ and Ex-situ TEM Characterization of Domain Wall-Defect Interactions Using Applied DC Bias in Bismuth Ferrite Thin Films 相关领域
原位
材料科学
铋铁氧体
表征（材料科学）
铋
光电子学
纳米技术
冶金
化学
多铁性
有机化学
铁电性
电介质
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| DOI | |
| 其它 |
期刊：Microscopy and Microanalysis 作者：Michael L. Jablonski; Christopher Winkler; ML Taheri; Anoop R. Damodaran; J. Karthik; et al 出版日期：2012-07-01 |
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