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 DCGAN-Driven Minority Class Augmentation for Lightweight YOLO-Based Photovoltaic Defect Localization Suitable for Edge Deployment 相关领域
软件部署
光伏系统
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GSM演进的增强数据速率
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期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Nakka Saampotth Maddileti; R. N. Namburi; Rayappa David Amar Raj; Rama Muni Reddy Yanamala; Archana Pallakonda 出版日期：2025-07-24 |
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(2025-6-4)
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