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  TAISAM: A Transistor Array-Based Test Method for Characterizing Heavy Ion-Induced Sensitive Areas in Semiconductor Materials TAISAM：一种基于晶体管阵列的测试方法，用于表征半导体材料中重离子诱导的敏感区域
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期刊：Electronics 作者：Jinjin Shao; Ruiqiang Song; Yaqing Chi; Bin Liang; Zhenyu Wu 出版日期：2022-06-29 |
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