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![]() 界面陷阱能级引起的交流响应不对称性对电导法的影响
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期刊:ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者:Hsin-Jyun Lin; Hiroshi Watanabe; Akinobu Teramoto; Rihito Kuroda; Kota Umezawa; et al 出版日期:2021-02-22 |
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