| 标题 |
 A Comparative Study of Different Physics-Based NBTI Models 相关领域
负偏压温度不稳定性
俘获
占空比
绝缘体（电）
接口（物质）
材料科学
物理
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MOSFET
光电子学
电压
机械
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晶体管
生物
量子力学
最大气泡压力法
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Souvik Mahapatra; Nilesh Goel; S. Desai; Shashank Gupta; B. Jose; et al 出版日期：2013-01-22 |
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