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Intrinsic Thermomechanical Properties of Freestanding TEOS-SiO2Thin Films Depending on Thickness |
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期刊:ACS applied electronic materials 作者:Hyeong-Jun Kim; Dong Jun Kim; Joon Pyo Kim; Woo Jin Baek; Sang Hyeon Kim; et al 出版日期:2024-07-05 |
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