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 EF-CIM: An Endurance Friendly CIM Accelerator Using Embedded NVM With Bit-Aware Wear Leveling for Efficient Light-Weight On-Chip Training in Edge Devices EF-CIM：一种耐久性友好的CIM加速器，使用具有位感知磨损均衡的嵌入式NVM，可在边缘设备中实现高效的轻量级片上训练
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期刊：IEEE Transactions on Circuits and Systems I Regular Papers 作者：Zhiwang Guo; Jingwen Jiang; Deyang Chen; Jinbei Fang; Yang Jianguo; et al 出版日期：2024-01-01 |
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