| 标题 |
  A systematic approach for quantitative orientation and phase fraction analysis of thin films through grazing-incidence X-ray diffraction 相关领域
衍射
X射线
材料科学
方向（向量空间）
放牧
相（物质）
光学
X射线晶体学
分析化学（期刊）
物理
数学
几何学
化学
生物
植物
色谱法
量子力学
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| DOI |
10.1107/s1600576725004935
doi
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| 其它 |
期刊：Journal of Applied Crystallography 作者：Fabian Gasser; Sanjay John; Jorid Smets; Josef Simbrunner; Mario Fratschko; et al 出版日期：2025-07-22 |
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