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Reduction in density of interface traps determined by C-V analysis in III-nitride-based MOSHFET structure III-氮化物基MOSHFET结构中C-V分析界面陷阱密度的降低
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Samiul Hasan; Mohi Uddin Jewel; Scott Crittenden; Md. Ghulam Zakir; Nifat Jahan Nipa; et al 出版日期:2024-03-11 |
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