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 CoSi/sub 2/ integrated fuses on poly silicon for low voltage 0.18 μm CMOS applications 相关领域
保险丝（电气）
CMOS芯片
电压
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可靠性（半导体）
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硅
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期刊：International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318) 作者：A. Kalnitsky; I. Saadat; A. Bergemont; P. Francis 出版日期：暂无 |
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