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Optical and electronic properties of Ge1−xSnx/Si alloys grown by remote plasma-enhanced chemical vapor deposition 相关领域
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena 作者:Kevin K. Choe; Daniel Felker; B. Claflin; Gordon Grzybowski; Christina L. Dugan 出版日期:2024-08-30 |
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