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 Characterization and Current Modeling of Stacked high-$\kappa$ Metal-Insulator-Metal Capacitors 相关领域
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期刊：2023 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA/VLSI-DAT) 作者：Gui-Sheng Chao; Wei-Hua Chen; Kuan-Ju Chen; Chrong-Jung Lin; Ya-Chin King 出版日期：2023-06-01 |
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