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The effects of an LPCVD SiN x stack on the threshold voltage and its stability in AlGaN/GaN MIS-HEMTs |
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Xue-Bing Yin; Cheng-Guo Li; Qiao-Yu Zeng; Xiao-Ming Ge; Zhi-Tao Chen 出版日期:2022-03-16 |
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