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 A Unified Electrothermal Behavior Modeling Method for Both SiC MOSFET and GaN HEMT SiC MOSFET和GaN HEMT电热行为的统一建模方法
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期刊：IEEE Transactions on Industrial Electronics 作者：Long Xiao; Jun Zhao; Botao Zhang; Dongdong Chen; Wu Liang 出版日期：2020-09-29 |
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