| 标题 |
 Understanding the Latent Impact of Residual Particles in 3D NAND 相关领域
与非门
计算机科学
直线（几何图形）
电子工程
计算机存储器
半导体存储器
组分（热力学）
感测放大器
非易失性存储器
计算机数据存储
存储单元
残余物
计算机硬件
动态随机存取存储器
词（群论）
数据保留
逻辑门
内存刷新
遮罩（插图）
位（键）
嵌入式系统
常规存储器
可靠性（半导体）
内存体系结构
内存管理
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| 网址 | |
| DOI |
10.31399/asm.cp.istfa2025p0111
doi
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| 其它 |
期刊：International Symposium for Testing and Failure Analysis 作者：Xiaochen Zhu; Mina Rashetnia; Elliott Rill; Lito De La Rama 出版日期：2025-11-07 |
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(2025-6-4)
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