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 Temperature-Dependent Threshold Voltage Extraction of FinFETs Using Noise Measurements 利用噪声测量提取FinFET的温度相关阈值电压
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期刊：IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 作者：Yunqiu Wu; Xu Chi; Fang Wang; Xusheng Liu; Jun Liu; et al 出版日期：2022-05-16 |
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