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 Free-to-bound emission from interstitial carbon and oxygen defects (CiOi) in electron-irradiated Si 电子辐照硅中间隙碳氧缺陷的自由结合发射
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期刊：Applied Physics Express 作者：Michio Tajima; Shota Asahara; Yuta Satake; Atsushi Ogura 出版日期：2020-12-17 |
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