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 Data retention investigation in Al:HfO2-based resistive random access memory arrays by using high-temperature accelerated tests Al：HfO2基电阻式随机存取存储器阵列的数据保持性能研究
相关领域
材料科学
数据保留
电阻随机存取存储器
威布尔分布
退火（玻璃）
活化能
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电阻式触摸屏
保留时间
降级（电信）
电阻器
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期刊：Journal of vacuum science and technology 作者：Eduardo Pérez; Mamathamba Kalishettyhalli Mahadevaiah; Cristian Zambelli; P. Olivo; Christian Wenger 出版日期：2019-01-01 |
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