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 Investigation of Ni/Al/Ti Ohmic Contact on N-Type 4H-SiC 相关领域
欧姆接触
材料科学
退火（玻璃）
扫描电子显微镜
合金
金属
电阻率和电导率
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表面粗糙度
冶金
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原子力显微镜
分析化学（期刊）
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色谱法
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期刊：Materials Science Forum 作者：Meng Qian Xue; Cai Ping Wan; Nian Nian Ge; Heng Yu Xu 出版日期：2021-09-06 |
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