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 Sample-imbalanced wafer map defects classification based on Jacobian regularized generative adversarial network 基于Jacobian正则生成对抗网络的样本不平衡晶圆贴图缺陷分类
相关领域
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样品（材料）
生成对抗网络
薄脆饼
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期刊：Measurement Science and Technology 作者：Jialin Li; Ran Tao; LI Shi-rong; Yuxiong Li; Xianzhen Huang 出版日期：2025-02-06 |
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