| 标题 |
 A thorough study on the electrical performance change and trap evolution of AlGaN/GaN MIS-HEMTs under proton irradiation 相关领域
材料科学
光电子学
辐照
晶体管
半导体
宽禁带半导体
俘获
阈值电压
质子
电子
高电子迁移率晶体管
电压
电气工程
物理
工程类
生物
核物理学
量子力学
生态学
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| 其它 |
期刊：Applied Physics Letters 作者：Tian Zhu; Xuefeng Zheng; Tai-Xu Yin; Hao Zhang; Xiao-Hu Wang; et al 出版日期：2023-05-01 |
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