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The Principles and Applications of Electrical Characterization Techniques for Electrically Active Defects in 4H‐SiC Devices |
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期刊:Physica Status Solidi A-applications and Materials Science 作者:Lan Luo; Yu Zhong; Kuan Yew Cheong; Rui Zhang; Tianlu Wang; et al 出版日期:2025-02-27 |
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