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 Positive temperature dependence of the electron impact ionization coefficient in In/sub 0.53/Ga/sub 0.47/As/InP HBTs 相关领域
撞击电离
异质结双极晶体管
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期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：A. Neviani; Gaudenzio Meneghesso; Enrico Zanoni; M. Hafizi; C. Canali 出版日期：1997-12-01 |
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