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 Thickness-dependent properties of indium oxide films 氧化铟薄膜的厚度相关性质
相关领域
铟
氧化物
材料科学
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生物系统
工程物理
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期刊：European Journal of Control 作者：Abdelillah Hakam; L OUBOUMALK; Mohammed Banouk; El Houssaine El Rhaleb; Mohammed Walia-Allah 出版日期：2004-07-31 |
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