| 标题 |
[高分]
 A CMOS Built-In Current Sensor for IDDQ Testing 相关领域
Iddq测试
CMOS芯片
工程类
电气工程
电子工程
嵌入式系统
计算机科学
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期刊：IEICE Transactions on Electronics 作者：J. B. KIM 出版日期：2006-06-01 |
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