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 Long-Term High-Temperature Dynamic Gate Stress Reliability of a Last-Generation, Automotive-Grade, Planar 1200 V SiC MOSFET 相关领域
MOSFET
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期刊： 作者：Giuseppe Mauromicale; Alessandro Sitta; M. Fiore; Michele Calabretta; Francesco Iannuzzo 出版日期：2025-03-16 |
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