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Characterization of SiO2 and TiO2 films prepared using rf magnetron sputtering and their application to anti-reflection coating 射频磁控溅射SiO2和TiO2薄膜的表征及其在减反射涂层中的应用
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期刊:Vacuum 作者:Sang‐Hun Jeong; Jae‐Keun Kim; Bongsoo Kim; Seok-Ho Shim; Byung‐Teak Lee 出版日期:2004-08-05 |
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