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The effect of T/sub g/ on thermo-mechanical deformation and reliability of adhesive flip chip assemblies during temperature cycling 温度循环过程中T/sub g/对粘接倒装芯片组件热机械变形和可靠性的影响
相关领域
温度循环
倒装芯片
材料科学
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热的
炸薯条
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工程类
物理
语言学
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期刊: 作者:Woon‐Seong Kwon; Se-Young Yang; Soon-Bok Lee; Kyung-Wook Paik 出版日期:2004-09-28 |
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