Denoising variational autoencoders for smart inspection of wafer probe card PCB channels for advancing quality control for semiconductor manufacturing

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标题	Denoising variational autoencoders for smart inspection of wafer probe card PCB channels for advancing quality control for semiconductor manufacturing
网址	https://doi.org/10.1016/j.cie.2025.111453
DOI	10.1016/j.cie.2025.111453 doi
其它	期刊：Computers & Industrial Engineering 作者：Butsayarin Suwattananuruk; Chen-Fu Chien 出版日期：2025
求助人	lbl234 在 2026-02-25 23:42:56 发布自河南，悬赏 10 积分
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