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 Metallization Reliability of GaN-Based High-Voltage Light-Emitting Diodes 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Jiaxin Chen; Wang Jia-lu; Mengmei Li; Weiling Guo; Lifan Shen; et al 出版日期：2021-08-30 |
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