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A 16-kb Antifuse One-Time-Programmable Memory in 5-nm High-K Metal-Gate FinFET CMOS Featuring Bootstrap High-Voltage Scheme, Read Endpoint Detection, and Pseudodifferential Sensing 相关领域
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期刊:IEEE Solid-State Circuits Letters 作者:Shao-Yu Shaun Chou; Shawn Chen; Jun-Hao Chang; Wan-Hsueh Cheng; Yu-Der Chih; et al 出版日期:2021-01-01 |
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