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 Fourier-inversion and wavelet-transform methods applied to X-ray reflectometry and HRXRD profiles from complex thin-layered heterostructures 傅里叶反演和小波变换方法应用于复杂薄层异质结构的X射线反射测量和HRXRD剖面
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期刊：Applied Surface Science 作者：O. Durand; N. Morizet 出版日期：2006-07-12 |
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