| 标题 |
 Raman spectroscopy characterization of residual stress in multicrystalline silicon solar wafers and solar cells: Relation to microstructure, defects and processing conditions 多晶硅太阳能晶片和太阳能电池残余应力的拉曼光谱表征：与微观结构、缺陷和加工条件的关系
相关领域
材料科学
薄脆饼
硅
残余应力
太阳能电池
拉曼光谱
微观结构
压力（语言学）
晶界
复合材料
表征（材料科学）
冶金
光电子学
光学
纳米技术
哲学
物理
语言学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊： 作者：Vera Popovich; J.M. Westra; R.A.C.M.M. van Swaaij; M. Janssen; I.J. Bennett; et al 出版日期：2011-06-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
无极微光
cdercder
Copyright
潇洒的惋清
伶俐妙海
yjh123
phdbio
OK
Nexus
Nole
pluto
huang
arniu2008
初景
sagitar
Criminology34
kimyb
Kao
GingerF
走四方
皖公网安备34019202002308
