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 CatBoost-Based Z-Interference Modeling for Accurate Prediction of Threshold Voltage Distribution in Scaled 3-D NAND Flash 基于CatBoost的Z干涉建模用于精确预测缩放三维NAND闪存中阈值电压分布
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Hu Yun; Seul Ki Hong; Seung Jae Baik; Jae-Duk Lee; Jong Kyung Park 出版日期：2025-01-01 |
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