| 标题 |
Effect of ${\hbox{SiO}}_{2}$ and/or ${\hbox{SiN}}_{x}$ Passivation Layer on Thermal Stability of Self-Aligned Coplanar Amorphous Indium–Gallium–Zinc–Oxide Thin-Film Transistors |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of Display Technology 作者:Dong Han Kang; In Kang; Sang Hyun Ryu; Young Sik Ahn; Jin Jang 出版日期:2013-09-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)