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Enhanced High-Temperature Performance of In-Situ SiN GaN MIS-HEMTs With an AlN Back Barrier Up to 500 °C |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Xuejing Sun; Xiufeng Song; Longyang Yu; Linhuan Gao; Junchun Bai; et al 出版日期:2026-08-01 |
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