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Experimental decomposition of the positive bias temperature stress‐induced instability in self‐aligned coplanar InGaZnO thin‐film transistors and its modeling based on the multiple stretched‐exponential functions 相关领域
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期刊:Journal of the Society for Information Display 作者:Dae Hwan Kim; S. Choi; J. Jang; Hara Kang; D. M. Kim; et al 出版日期:2017-02-01 |
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